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European Journal of Electrical Engineering
2103-3641
Revue des Systèmes
Revue Internationale de Génie électrique (1295-490X)
 

 ARTICLE VOL 14/4 - 2011  - pp.525-543  - doi:10.3166/ejee.14.525-543
TITRE
Cartographies expérimentales des déformations mécaniques induites par un champ électrique continu dans des films d'isolants organiques

TITLE
Experimental cartographies of mechanical deformations induced by a dc electrical field in organic insulator films

RÉSUMÉ

Nous présentons dans cet article une version améliorée de la technique de mesure des contraintes mécaniques en utilisant un nouveau traitement des images numériques. Ceci nous permet de mieux avancer dans la compréhension et dans la modélisation de la durée de vie du matériau en réalisant des cartographies, en temps réel, des déformations mécaniques induites dans la surface d’un échantillon soumis à un champ électrique. Les résultats obtenus relatifs au Poly(ethylene naphthalene 2,6-dicarboxylate) PEN semi-cristallin montrent que la déformation mécanique induite sur la surface est non uniforme, quelques régions surfaciques présentant des niveaux de déformation supérieurs. Nous supposons que la mise en évidence des régions surfaciques plus faibles peut être le signe de l’existence des défauts au sein de l’échantillon ou d’un vieillissement local associé à l’accumulation des charges d’espace.



ABSTRACT

This article presents an improved version of the mechanical strain induced measurement technique using a new digital image treatment. It allows to improve the comprehension as well as the modeling of materials’s life by realizing real-time experimental cartographies of the induced mechanical deformation of a sample surface subjected to an electrical field. The results obtained for Poly(ethylene naphthalene 2,6-dicarboxylate) PEN semi-crystalline thin films show that the induced mechanical deformation is non uniform on the surface, some areas present higher levels of deformation. We assume that these weaker areas can be produced by defects within the sample or local ageing related to the space charge accumulation.



AUTEUR(S)
Tung Tran ANH, Laurent BERQUEZ, Laurent BOUDOU, Juan MARTINEZ-VEGA

MOTS-CLÉS
vieillissement, propriétés diélectriques, rupture, propriétés mécaniques, microdéformation.

KEYWORDS
ageing, dielectric properties, fracture, mechanical properties, microdeformation.

LANGUE DE L'ARTICLE
Anglais

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