ACCUEIL

Consignes aux
auteurs et coordonnateurs
Nos règles d'éthique
Auteurs : soumettez
votre article en ligne
Autres revues >>
European Journal of Electrical Engineering
2103-3641
Revue des Systèmes
Revue Internationale de Génie électrique (1295-490X)
 

 ARTICLE VOL 14/5 - 2011  - pp.569-585  - doi:10.3166/ejee.14.569-585
TITRE
Étude de l'effet du vieillissement de la couche de métallisation de composants de puissance à semi-conducteur

TITLE
Effect of die metallization layer ageing in the case of power semiconductor devices

RÉSUMÉ

L’étude proposée concerne les mécanismes de dégradation de la couche de métallisation déposée sur les puces de composants à semi-conducteur de puissance, et l’effet de ce vieillissement sur les caractéristiques électriques d’un transistor COOLMOSTM. Nous avons cherché à relier les évolutions après vieillissement des grandeurs électriques au vieillissement de la métallisation, afin de mieux comprendre l’origine physique des mécanismes de dégradation et l’effet de la dégradation de la couche de métallisation sur les performances électriques des dispositifs testés.



ABSTRACT

The paper describes ageing mechanisms of the metallization layer deposited on the chips of power semiconductor devices, and the effects of its ageing on the electrical characteristics of a COOLMOSTM Transistor. We have tried to link the changes in electrical performances to the metallization degradation, in order to better understand the origin of the physical mechanisms of ageing and the effects of the degradation of the metallization layer on electrical performances of tested devices.



AUTEUR(S)
Sylvain PIETRANICO, Sylvie POMMIER, Stéphane LEFEBVRE, Mounira BERKANI, Zoubir KHATIR, Serge BONTEMPS, Emmanuel CADEL

MOTS-CLÉS
fiabilité, composants semi-conducteurs de puissance, métallisation, vieillissement.

KEYWORDS
reliability, power semiconductor devices, metallization, aging.

LANGUE DE L'ARTICLE
Anglais

 PRIX
• Abonné (hors accès direct) : 12.5 €
• Non abonné : 25.0 €
|
|
--> Tous les articles sont dans un format PDF protégé par tatouage 
   
ACCÉDER A L'ARTICLE COMPLET  (8,8 Mo)



Mot de passe oublié ?

ABONNEZ-VOUS !

CONTACTS
Comité de
rédaction
Conditions
générales de vente

 English version >> 
made by WAW Lavoisier